出展者によるセミナー
ETSE18
同時通訳
東京ビッグサイト 展示会場4ホール TechSPOT Exhibitor Seminars
12月14日(金)16:00-16:50
製造工程におけるin-situ、in-lineについての新たな膜厚検査のご紹介
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概要
半導体デバイス評価には、各構造の厚みが性能に大きく影響するため、各プロセス中や終了後に膜厚測定を行う必要があります。弊社の膜厚計は、非破壊・非接触・高速・高精度等の特長があり、各工程評価で役立てるソリューションをご紹介します。(例:スパッタ、CVD、PVD、レジスト塗布、エッチング、CMP、グラインダーなど。)
プログラムアジェンダ
大塚電子(株)