ETSE18

同時通訳

東京ビッグサイト 展示会場4ホール TechSPOT Exhibitor Seminars

12月15日(金)16:00-16:50

最大3kVでワンパスかつ安全にパワー半導体ウェハのテストコストを削減するシステムのご紹介

概要

新しいパワー半導体を市場へ投入するにあたり、ウェハレベル試験を行う事でテスト時間を劇的に短縮し、fabの生産性を向上させる事ができます。ケースレーの新システムS540は最大3kVまでの試験を1度のタッチダウンで実施でき、テスト時間とコストを大きく削減し、市場投入までの時間短縮に大きく貢献致します。

プログラムアジェンダ

テクトロニクス社／ケースレーインスツルメンツ社