出展者によるセミナー
ETSE18
同時通訳
東京ビッグサイト 展示会場4ホール TechSPOT Exhibitor Seminars
12月15日(金)16:00-16:50
最大3kVでワンパスかつ安全にパワー半導体ウェハのテストコストを削減するシステムのご紹介
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概要
新しいパワー半導体を市場へ投入するにあたり、ウェハレベル試験を行う事でテスト時間を劇的に短縮し、fabの生産性を向上させる事ができます。ケースレーの新システムS540は最大3kVまでの試験を1度のタッチダウンで実施でき、テスト時間とコストを大きく削減し、市場投入までの時間短縮に大きく貢献致します。
プログラムアジェンダ
テクトロニクス社/ケースレーインスツルメンツ社