出展者によるセミナー
ETSE10
同時通訳
東京ビッグサイト 展示会場4ホール TechSPOT Exhibitor Seminars
12月15日(木)13:40-14:30
(株)堀場製作所
次世代プロセスに期待される非接触計測の提案
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概要
半導体先端プロセスの評価・解析に応用可能なHORIBAグループの非接触計測をご提案いたします。
HORIBAのコアテクノロジーである光技術を利用した粒子解析・元素分析・分子構造解析を測定事例と共にご紹介致します。
本セミナーでご紹介する計測技術・製品以外に関するご質問・ご要望も歓迎いたします。
プログラムアジェンダ